機器分析

受託機器分析一覧

各種分析機器と前処理・解析技術を駆使し、材料・素材の組成、構造、状態などを定性的・定量的に分析します。

元素分析

イオンクロマト分析

イオン交換樹脂を充填したカラムにより、水溶液中に含まれる無機陰イオン、無機陽イオン、有機酸イオンを分離、定量する分析方法です。

イオン拡散係数測定は、フィルムや薄板のイオン拡散係数を得ることができます。

原子吸光分析

原子が基底状態から励起される時に吸収される光の強度から、元素の含有量をppbオーダーの液中濃度で分析できます。

ICP-質量分析(ICP-MS)

溶液中の微量元素を測定する分析方法であり、試料をプラズマ中で分解、イオン化し、質量ごとに分け検出します。

Li~Uの金属元素に対しppm~pptのオーダーの液中濃度で多元素同時分析が可能です。

蛍光X線分析

試料にX線を照射したときに各元素から発する固有の蛍光X線の強度から元素濃度を測定します。

対象元素F~Uに対し感度0.01%~での概略定量分析が可能です。

水分分析

水分分析

試料を加熱した際に発生する微量水分(100μg~5000μg)をカールフィッシャー法で分析します。

試料を加熱した際に発生する微量水分(50μg~10000μg)をカールフィッシャー法で分析します。

水分吸脱着測定

超精密天秤と恒温恒湿を組み合わせた専用装置を用い、装置から取り出さずに試料の重量を連続計測し、水分の吸脱着特性を測定します。

形態解析

FE-TEM(電界放射型透過電子顕微鏡)

サブミクロン以下に薄膜化した試料に電子線を照射し、倍率1万倍~300万倍で試料内の組織や微細構造を観察します。

FE-SEM(電界放射型走査電子顕微鏡)

試料の表面や断面に電子線を照射し、倍率50倍~30万倍で試料の表面形状、微細構造を観察します。

試料表面に電子線を照射したときに発生する元素固有の特性X線を検出し、微小部分の元素分析が可能です。

試料表面に電子線を照射したときに発生する元素固有の特性X線を検出し、微小部分の元素の分布状態を測定します。

電子線マイクロアナライザー(EPMA)

試料の表面や断面に電子線を照射し、倍率40倍~1万倍で試料の表面形状、微細構造を観察します。

試料表面に電子線を照射したときに発生する元素固有の特性X線を検出し、微小部分の元素分析が可能です。

光学顕微鏡

光学顕微鏡では、試料に光を照射することにより発生する反射光等をレンズで結像させることにより、試料の構造を拡大して観察することができます。

X線透視観察

X線透視観察は非破壊検査の一手法であり、様々な部品、部材の内部構造を観察します。

X線CTとは、360度全方向からX線を照射して透過像を取得し、物体内部の構造を非破壊で三次元的に観察する手法です。高い空間分解能を有し、微細構造の観察が可能です。

X線回折測定(XRD)

X線回折法(XRD)とは、試料に照射したX線が、原子がもつ電子によって回折する現象を解析する測定法です。

前処理、試験片作製 集束イオンビーム(FIB)

イオンビーム照射によるスパッタリングにより、試料表面の微細加工や薄膜化を行い、電子顕微鏡観察用の試験片を作製します。

破面解析

破壊した製品や部品を詳細に観察し、破壊起点、破壊モードなどを推定し、破壊の原因を分析します。

ソルベントクラックとは、プラスチック成形品特有の破壊現象であり、応力存在下で特定の薬品や油脂と接触するとクラックが発生する場合があります。

表面分析

X線光電子分光分析(XPS、ESCA)

試料表面にX線を照射したときに発生する光電子のエネルギーを測定し、表面~5nm程度の試料極表面の元素、元素濃度、結合状態を分析します。

リチウムイオン電池のような大気中の酸素や水分などと反応して変質しやすい試料について、トランスファーベッセルを用いることで、グローブボックスで前処理したサンプルを大気非暴露で装置に導入することができます。

X線を照射して試料から放出される光電子のエネルギーを測定することにより、表面の元素や濃度および結合を分析することができます。

低エネルギーイオン散乱分光分析(ISS)

試料表面に低エネルギーHeイオンを照射したときに発生する弾性散乱イオンの運動エネルギーを測定し、表面1~2原子層の元素を分析します。

飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)

パルス化された一次イオンビームを試料表面に照射したときに発生する二次イオン質量数を測定し、試料最表面の化学構造、組成を分析します。

金メッキ上のシミ上付着物を分析した事例を紹介します。

1um程度の微小部分の異物の分析が可能です。
有機膜上の微小異物を分析した事例を紹介します。

パワーデバイス用絶縁材中のアルカリ金属の分布を分析した事例を紹介します。

蛍光ラベル化法

蛍光ラベル化処理したガラス繊維やフィラー表面のカップリング剤を蛍光顕微鏡で観察し、分布を高感度かつ3次元で分析します。

化合物及びガス分析

フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR)

試料に赤外線を照射し化合物の官能基を反映した赤外吸収スペクトルを得ることで、化合物の同定解析を行います。

フーリエ変換顕微赤外分光分析(顕微FT-IR)は、ミクロンオーダーの微小領域に有効であり、オートステージの走査によるマッピング分析では、成分の同定とその分布を詳細に把握することが可能です。

フーリエ変換顕微赤外分光分析(顕微FT-IR)は、ミクロンオーダーの微小領域に有効であり、顕微鏡用加熱ステージを組み合わせることで、加熱過程における測定箇所の化学構造や成分組成の変化を調べることができます。

フーリエ変換核磁気共鳴分析(FT-NMR)

核磁気共鳴装置(NMR)を用い、有機化合物の構造解析を行います。

熱硬化性樹脂等、溶媒に不溶な試料を固体のままNMRで構造解析します。

硬化条件を変えることでフェノール樹脂の硬化度合いを解析した事例を紹介します。

緩和試薬を用いることでフェノール樹脂成型材の固体13C-NMR測定時間を大幅に短縮した事例を紹介します。

リチウムイオンの拡散係数評価(PGSE-NMR法)

Liイオンの移動速度の評価には、材料中の特定の分子やイオンの自己拡散係数を求めることができるパルス磁場勾配核磁気共鳴(PGSE-NMR)法が有効です。

質量分析(MS)

試料の溶剤可溶分を装置に導入して、化合物の質量数を測定します。

ガスクロマトグラフィー質量分析(GC-MS)

溶液試料をガスクロマトグラフで分離し質量分析計で質量数情報を得ることにより、化合物組成を分析します。

高分子化合物を300~800℃で熱分解させ、分解生成物をGC-MSで分離・同定することによって樹脂組成解析を行います。

600℃で熱分解させた際の熱分解成分の解析事例を紹介します。

フェノール樹脂複合材から抽出処理を行い微量添加物を同定した事例を紹介します。

ヘッドスペース - ガスクロマトグラフィー質量分析(HS-GC-MS)

試料を密閉した瓶を加熱し瓶のヘッドスペース部分のガスを採取して、発生した有機ガス成分をGC-MSで分離・同定します。

熱脱着ーガスクロマトグラフィー質量分析(熱脱着-GC-MS)

一定温度や多段階プログラム等の様々な温度条件で試料を加熱し、発生した有機ガス成分をGC-MSで分離・同定します。

分子量、分子量分布

ゲル浸透クロマトグラム分析(GPC)

高分子試料を分子サイズにより分別し、数平均分子量、重量平均分子量、分子量分布を測定します。

※協力機関での対応となります。

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