分析サービスのご案内：組成分析、表面分析のご案内

　樹脂や複合材料において、その構成成分を分析することは研究開発や不具合解析などにおいて非常に重要な要素になります。
　弊社では有機・無機組成、あるいはアウトガス成分や異物成分など、各種分析装置（フーリエ変換赤外分光分析／FT-IR、ガスクロマトグラフィー質量分析／GC-MS、フーリエ変換核磁気共鳴分析／FT-NMR、イオンクロマトグラフ、ICP-MSなど）により、様々な組成分析が可能です。
　豊富なデータベースと長年の経験から、考察の上、様々な成分判定を行います。

　試料の表面状態を確認することは、コーティング状況の確認や不具合分析（例えば汚染状況の確認）などにおいて重要になります。
　飛行時間型二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）を用いると表面の有機成分をppmレベルの高感度で分析できます。
　X線光電子分光法（XPS/ESCA）では金属および有機物の結合状態と試料表面の元素濃度が分析できます。表面１原子層を分析するISS法も可能です。

　このほど、電池部材向けに大気非暴露でのXPS/ESCAも可能となりました。例えばリチウムイオン電池は大気中で酸素や水分などと反応して変質してしまうため、大気中では本来の分析ができませんが、トランスファーベッセルを用いることで、大気非暴露での分析が可能となりました。