FE-SEM(電界放射型走査電子顕微鏡) EDX(エネルギー分散法)
概要
材料や製品の元素情報を把握することは、研究開発や品質管理などの現場において重要な項目の一つです。EDX(エネルギー分散法)は、試料表面から発生する特性X線のエネルギーを検出することで、表面微小部分の元素分析を行う方法です。微小領域の元素分析を短時間で比較的簡単に行うことができます。
試験方法と測定例
原理
細く絞られた電子線を固体表面に照射すると、右図に示すように、照射された表面の微小領域から、各元素固有のX線、すなわち特性X線が発生します。
この特性X線をエネルギー分散型のX線検出器で測定することで、表面微小部分の元素分析を行うことができます。

特微
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特性X線のエネルギー値を測定することにより、元素を特定します。
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元素の種類やその量が分かります(定性分析、定量分析)。
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検出下限は相対濃度で%オーダーとなります。
測定範囲
5B~92U
測定例
はんだ接合部の分析
- 内容
- はんだ接合部の分析
- 結果
- はんだ/銅回路界面には銅錫合金が形成され、はんだ中には銀成分が粒状に偏析していることがわかります。

用途
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析出物、付着物、微小の異物の分析
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金属接合部の金属間化合物の分析 など
サンプルサイズ
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大きなサンプルは、試料の裁断が必要です(数cm角)。
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目的に応じて、適切な前処理を行います。
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