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解析事例 > CSP関連製品の解析

めっき層高精度分析
 
高分解能電子顕微鏡でめっき層を高精度に分析できます

電界放射型走査電子顕微鏡 (FE−SEM)

最近の電子材料は半導体CSPを始めとしてめっき技術が多用されています。

めっき状態は特性に大きく影響します。その層構成の解析が高精度に出来ます。

 

解析例
銅回路のめっき層  構成分析

図-銅回路のめっき層

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