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解析事例 > 信頼性評価

絶縁耐力、絶縁破壊電圧試験
 
高電圧(Max.100kV)の絶縁性評価が可能です

大型のトランスにより、最高100kVまで絶縁破壊試験が可能です。
各種規格(JIS ASTM IEC)準拠の試験が可能です。

■測定原理概要

・絶縁破壊試験とは絶縁の強度を測定する試験であり、絶縁破壊が生じるまで印加電圧を上げてその限界の電圧を測定します。測定法には短時間試験と段階試験の2種類があります。
・測定系
図-測定系電極はJIS C2110
・短時間法
試料が10〜20秒で破壊に至る一定昇圧速度(通常1kV/sec)で破壊電圧(BDV1)を求めます。一般的に絶縁破壊電圧とは短時間法での結果を指します。
図-短時間法 破壊電圧(BDV1)
・段階法
BDV1の40%値(JIS)または50%値(ASTM)『以下( )値』から規定時間印加し破壊に至らなければ一定電圧ずつ段階的に昇圧し最終的に規定時間保持した電圧(BDV2)を求める。
図-段階法
■装置仕様
 測定方法
 絶縁耐力試験(短時間法、段階法)、耐電圧試験
 試験電圧  AC 〜100kV
 DC 〜10kV
 雰囲気温度  室温〜150℃
 試料サイズ  大きさφ100mm以上
 試料厚み  10μm程度〜3mm程度
 測定雰囲気  大気中、絶縁油中
解析例
フィルム絶縁性の厚さ依存性測定
同じフィルムの異なる厚さに置ける絶縁破壊電圧を測定した例です。試料の厚さとともに破壊電圧が比例して大きくなっているのが分かります。
グラフ-ポリイミドフィルム絶縁破壊電圧測定

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