住ベリサーチ株式会社 プラスチック分析評価・情報調査の、新たなステージを創造する。
分析試験項目 試験方法と測定例 解析事例 特許・技術動向調査 技術分類リスト 調査研究レポート お問い合わせ 住ベリサーチ株式会社
1. 物性解析

1-2. 電気試験

項 目
仕   様
規格試験法
内   容
表面抵抗(率) DCソース:pAメーター
測定範囲:101〜3×1016
測定温度:室温〜200℃
JIS K6911
ASTM D257
室温
高温(30〜200℃)
体積抵抗(率) 同上 同上 室温
高温(30〜200℃)
JIS C2101 液体(室温のみ)
絶縁破壊
沿層、貫層絶縁破壊電圧
最高電圧 :交流 有効100kV
  :直流10kV
測定温度 :室温(気中)
  :室温〜150℃(油中)
JIS K6911
JIS C2110
ASTM D149
短時間昇圧法
室温
高温(30〜100℃未満)
   (100〜150℃)
段階昇圧法
室温
高温(30〜100℃未満)
   (100〜150℃)
帯電性 相手材:綿ブロード(JISL0803♯40)
帯電量:最大10000V
精度:フルスケールの5%
半減期測定
試験条件:23℃、50%RH
コロナ放電電圧:±10kV(DC)
ロータリー
スタティック法
 
オネストメーター法
JIS L1094
 
特性インビーダンス
/信号伝搬速度
回路の長さ:100〜200mm程度
測定周波数:45M〜18.045GHz
測定温度:室温
タイムドメイン法 室温
長期熱劣化試験 加熱温度:HHBT、PCBT   マイグレーション
接続信頼性 処理条件:冷熱衝撃
温度範囲:-70〜200℃
1サイクル:〜120分
 
配線準備費
10チャンネルまで
100チャンネルまで
200チャンネルまで
処理費 1Hrあたり
抵抗値途中測定
最終判定
10チャンネル
100チャンネル
200チャンネル
比誘電率・
誘電正接
LCRメーター
  測定周波数:20Hz〜1MHz
  測定温度:-70〜200℃
JIS K6911
JIS C6481
ASTM D150
【100Hz〜1MHz帯】
平板、フィルム(厚さ100μm以上)
室温
高温(30〜200℃)
低温(-70〜20℃)
電極蒸着
(厚さ10μm以下のフィルム)
JIS C2101 液体(室温のみ)
LCRメーター
  測定周波数:75KHz〜30MHz
  測定温度:室温
空隙変化法 【2MHz〜30MHz帯】
    室温
インピーダンスアナライザー
  測定周波数:1MHz〜1GHz
容量法 【1MHz〜1GHz帯】
板(15mm角)
    室温
ネットワークアナライザー
  測定周波数:45MHz〜75GHz
同軸線路
共振器法
【100MHz〜1GHz帯】
板、ブロック(厚肉円筒の半径方向)
    室温
トリプレート線路
共振器法
【1GHz〜25GHz帯】
板、フィルム(積層厚さ1.6mm)
  室温
  高温(30〜120℃)
  低温(-40〜20℃)
円筒空胴共振器法
(TM010法)
ASTM D2520
【1GHz〜11GHz帯】
板、フィルム、棒状試料
  室温
  高温(30〜120℃)
  低温(-40〜20℃)
円筒空胴共振器法
(TE011法)
JIS R1641
【5GHz〜40GHz帯】
板、フィルム
  室温
  高温(30〜120℃)
  低温(-40〜20℃)
ファブリペロー
共振器法
JIS R1660-2
【30GHz〜75GHz帯】
板、ブロック(厚さ3〜10mm)
  室温
分析試験項目
1.物性解析
1-1. 機械試験
1-2. 電気試験
1-3. 粘弾性試験
1-4. 熱特性試験
1-5. 流動性試験
1-6. ガス透過度測定
1-7. 燃焼性試験
1-8. 光関係測定
1-9. 密度測定
1-10. シミュレーション
1-11. 試験片作製、他
2.耐久性試験
2-1. 促進耐候性試験
2-2. 超促進耐候性
   試験
2-3. 疲労・
   クリープ試験
2-4. 塩水噴霧試験、
   複合サイクル
   試験
2-5. 耐熱・耐湿試験
2-6. その他
   耐久性試験
3.組成・形態解析
3-1. 元素分析
3-2. 形態解析及び
   表面分析
3-3. 化合物及び
   ガス分析
3-4. 分子量、
   分子量分布
3-5. その他
ページトップへ
会社概要とアクセス個人情報についてサイトマップ